TDS-sarjan nelikanavainen digitaalinen oskilloskooppi

Kosketusnäyttöinen digitaalinen oskilloskooppi, jossa on 70 MHz / 100 MHz / 200 MHz kaistanleveys, 1GS / s / 2GS / s näytteenottotaajuus, 7.6M tallennuksen pituus ja 50 000 wfms / s aaltomuodon virkistystaajuus

Lähetä kysely

Keskustele nyt

Tuotteen esittely

- 70MHz-200MHz kaistanleveys, Max 2GS / s näytteenottotaajuus

- 7.6M ennätyksen pituus

- 50 000 wfms / s aaltomuodon kaappausnopeutta

- aaltomuodon zoomaus (vaaka / pystysuora) ja tallennus

- FFT-pisteitä (pituus ja resoluutio muuttuja)

- monen ikkunan laajennus

- 8 tuumaa 800 x 600 pikseliä teräväpiirtonäyttöinen LCD

- monikommunikaatioliitäntä: USB, VGA, LAN

- LabVIEW tuetaan

- 4 kanavan lähtö

Malli nro.	kanava	kaistanleveys	Näytteenottotaajuus	Tallennuksen pituus
TDS7074	4	70MHz	1GS / s	7.6M
TDS7104	4	100MHz	1GS / s	7.6M
TDS8104	4	100MHz	2GS / s	7.6M
TDS8204	4	200MHz	2GS / s	7.6M

1. Näyttöruutu

Ohje

Miksi sinun pitäisi valita sopiva mittakaava testi- ja mittauslaitteistossa?

Mittausominaisuuksien parantamiseksi useimmilla T & M-laitteilla on erilaisia mittakaavoja erilaisten signaalimittausten kysynnän tyydyttämiseksi. Jos käytät laajamittaista mittausta pienen signaalin mittaamiseen, monet ihmiset tietävät, että se aiheuttaa poikkeamia, mutta se ei voi selittää syytä. Katsokaamme, kuinka eri asteikot vaikuttavat tulokseen.

Jotkut insinöörit uskovat, että suuri mittakaava voi mitata suuremman määrän objekti-signaalia. Tämä tarkoittaa sitä, että instrumenttien avulla voidaan havaita sekä pieniä että suuria signaaleja. Tästä syystä osa niistä valitsee usein suuren mittakaavan. Jotkut pitävät mittakaavassa oletusasennossa ja mittaustulokset näyttävät täysin tarkilta, mutta onko mittauksessa ongelmia?

ADC-kvantifioinnin poikkeama

K instrumentin sisällä oleva kvantifiointivariaatio voi vaikuttaa tuloksen tarkkuuteen. Oskilloskoopin ottaminen esimerkiksi, jos sillä on 9-bittinen ADC, silloin 2 ⁹ = 512 kelvollista tasoa. Kun se on alle 1000 V: n mittakaavassa (Peak-Peak), otetaan huomioon sisäänmenon maksimi ± 1000V jakamaan 512 kelvollista bittiä. Kvantifioinnin poikkeama olisi 2000V / 512 = 3.9V

Jos tätä mittakaavaa käytetään mittaamaan jotain 11V: ta, on selvää, että yksittäisen ADC-näytteenoton vähimmäisresoluutio ei voi mitata 1 V: n signaalin muutosta.

Owon on rikkonut tämän teknisen ongelman vapauttamalla XDS-sarjan 12- ja 14-bittiset oskilloskoopit, jotka antavat merkittävän edun signaalin mittaustarkkuudessa. Käyttämällä samaa tapausta 1000V: n mittakaavassa 12bit ADC antaa noin 0,5V: n resoluutiota ja 14-bittinen ADC antaa noin 0,125v: n tarkkuuden. Kuten nähdään, tämä on merkittävä etu, kun yksityiskohtaisia ja tarkkoja mittauksia tehdään.

Oikean mittakaavan käyttö signaalin mittaamiseen on tärkeää, jos se ei ole välttämätöntä, älä valitse suurta mittakaavaa pienten signaalien mittaamiseksi. Sen sijaan valitse asteikko, joka vastaa tarkemmin mitattuja signaalitasoja tarkkojen tulosten varmistamiseksi. OWON XDS oskilloskooppivalikoima tarjoaa käyttäjälle enemmän vaihtoehtoja sopivimman mittakaavan valitsemiseksi ja on suunniteltu auttamaan sinua tekemään entistä tarkemmat mittaukset helposti.

Malli	TDS7074	TDS7104	TDS8104	TDS8204
kaistanleveys	70MHz	100MHz		200MHz
kanava	4
Näytteenottotaajuus	1GS / s		2GS / s
Aaltomuodon kaappausnopeus	50 000 wfms / s
Näyttö	8 tuuman kosketusnäytön värinäyttö
Tallennuksen pituus	7.6M
Vaaka-asteikko (s / div)	2ns / div - 100s / div, askel 1 - 2 - 5
Pystysuuntainen tarkkuus (A / D)	8 bittiä resoluutio (4 kanavaa samanaikaisesti)
Pystysuora herkkyys	2mV / div - 10V / div (tulossa)
Trigger-tyyppi	Edge, Pulse, Video, Kaltevuus
Trigger-tila	Auto, Normaali, Yksittäinen
Aaltomuodon matematiikka	+, -, ×, ÷, FFT
Viestintäportti	USB-isäntä, USB-laite, VGA, LAN, AUX
Mitat (L × P × S)	380 × 180 × 115 (mm)
Paino (ilman pakkausta)	1,5 kg